高精度样品水平型测角仪S

 

配备具有0.0001°较小步进的高精度样品水平型测角仪。根据分析目的，可以选择适合分析大型样品的Ｌ型（较大350mmφ样品）和通用的S型。

 

 

· XRD-7000系列配备了样品水平型测角仪，能够测定大型样品。

· 不但可进行定性/定量等基本分析，还可以应用于残留奥氏体定量、环境定量、晶格常数的精细化、结晶度的计算、晶体粒径和晶格应力的计算、晶系确定、Rietveid结构解析软件进行的晶体结构解析。通过追加附件，还可以应用于应力测定、样品加热过程的分析、薄膜样品测定等。